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6 Zoll halbisolierender HPSI-SiC-Wafer
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6 Zoll halbisolierender HPSI-SiC-Wafer

Semicorex bietet verschiedene Arten von 4H- und 6H-SiC-Wafern an. Wir sind seit vielen Jahren Hersteller und Lieferant von Siliziumkarbidprodukten. Unser doppelt polierter halbisolierender 6-Zoll-HPSI-SiC-Wafer hat einen guten Preisvorteil und deckt die meisten europäischen und amerikanischen Märkte ab. Wir freuen uns darauf, Ihr langfristiger Partner in China zu werden.

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Produktbeschreibung

Semicorex verfügt über eine komplette Produktlinie von Siliziumkarbid(SiC)-Wafern, einschließlich 4H- und 6H-Substraten mit N-Typ-, P-Typ- und hochreinen halbisolierenden Wafern, die mit oder ohne Epitaxie sein können.

Der 6-Zoll-Durchmesser unseres halbisolierenden 6-Zoll-HPSI-SiC-Wafers bietet eine große Oberfläche für die Herstellung leistungselektronischer Geräte wie MOSFETs, Schottky-Dioden und andere Hochspannungsanwendungen. Der halbisolierende 6-Zoll-HPSI-SiC-Wafer wird hauptsächlich in der 5G-Kommunikation, in Radarsystemen, Leitköpfen, in der Satellitenkommunikation, in Kampfflugzeugen und in anderen Bereichen eingesetzt und bietet die Vorteile einer Verbesserung der HF-Reichweite, der Identifizierung über extrem große Entfernungen, der Anti-Jamming-Funktion und hoher Reichweite Hochgeschwindigkeits-Informationsübertragungsanwendungen mit hoher Kapazität gelten als das idealste Substrat für die Herstellung von Mikrowellen-Leistungsgeräten.


Spezifikationen:

â Durchmesser: 6â³

„Doppelt poliert

â Grad: Produktion, Forschung, Dummy

â 4H-SiC-HPSI-Wafer

â Dicke: 500 ± 25 µm

â Mikrorohrdichte: â¤1 Stück/cm2~ â¤15 Stück/cm2


Artikel

Produktion

Forschung

Dummy

Kristallparameter

Polytypie

4H

Oberflächenorientierung auf der Achse

<0001 >

Oberflächenorientierung außerhalb der Achse

0±0,2°

(0004)FWHM

â¤45Bogensekunden

â¤60 Bogensekunden

â¤1OOarcsec

Elektrische Parameter

Typ

HPSI

Widerstand

â¥1 E8ohm·cm

100 % Fläche > 1 E5ohm·cm

70 % Fläche > 1 E5ohm·cm

Mechanische Parameter

Durchmesser

150 ± 0,2 mm

Dicke

500 ± 25 µm

Primäre flache Ausrichtung

[1-100]±5° oder Kerbe

Länge/Tiefe der Primärebene

47,5 ± 1,5 mm oder 1 - 1,25 mm

TTV

â¤5 μm

â¤10 μm

â¤15 μm

LTV

â¤3 μm(5mm*5mm)

â¤5 μm(5mm*5mm)

â¤10 μm(5mm*5mm)

Bogen

-15μm ~ 15μm

-35μm ~ 35μm

-45μm ~ 45μm

Kette

â¤35 μm

â¤45 μm

â¤55 μm

Rauheit der Vorderseite (Si-Fläche) (AFM)

Raâ¤0,2nm (5μm*5μm)

Struktur

Mikrorohrdichte

â¤1 Stück/cm2

â¤10 Stück/cm2

â¤15 Stück/cm2

Kohlenstoffeinschlussdichte

â¤1 Stück/cm2

N / A

Sechseckige Leere

Keiner

N / A

Metallverunreinigungen

â¤5E12Atome/cm2

N / A

Vordere Qualität

Vorderseite

Si

Oberflächenfinish

Si-Face-CMP

Partikel

â¤60 Stück/Wafer (Größe â¥0,3μm)

N / A

Kratzer

â¤5ea/mm. Kumulierte Länge â¤Durchmesser

Gesamtlänge: 300 mm

N / A

Orangenschale/Kerne/Flecken/Streifen/Risse/Verunreinigung

Keiner

N / A

Kantensplitter/Einkerbungen/Bruch/Sechskantplatten

Keiner

Polytypiebereiche

Keiner

Kumulierte Flächeâ¤20 %

Kumulierte Flächeâ¤30 %

Lasermarkierung vorne

Keiner

Zurück Qualität

Hinterer Abschluss

C-Gesichts-CMP

Kratzer

â¤5ea/mm, Gesamtlänge â¤2*Durchmesser

N / A

Mängel an der Rückseite (Kantenabsplitterungen/Einkerbungen)

Keiner

Rückenrauheit

Raâ¤0,2nm (5μm*5μm)

Lasermarkierung auf der Rückseite

"HALB"

Rand

Rand

Fase

Verpackung

Verpackung

Epi-ready mit Vakuumverpackung

Verpackung für Multi-Wafer-Kassetten

*Hinweise: „NA“ bedeutet keine Anfrage. Nicht erwähnte Artikel beziehen sich möglicherweise auf SEMI-STD.




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