Der Halbleiter-Dünnschichtabscheidungsprozess ist ein wesentlicher Bestandteil der modernen Mikroelektroniktechnologie. Dabei handelt es sich um den Aufbau komplexer integrierter Schaltkreise durch die Abscheidung einer oder mehrerer dünner Materialschichten auf einem Halbleitersubstrat.
WeiterlesenSiliziumkarbid (SiC) ist ein Halbleitermaterial mit großer Bandlücke, das in den letzten Jahren aufgrund seiner außergewöhnlichen Leistung bei Hochspannungs- und Hochtemperaturanwendungen große Aufmerksamkeit erregt hat. Diese Studie untersucht systematisch die verschiedenen Eigenschaften von SiC-Kr......
WeiterlesenSiliziumkarbid (SiC) ist eine durch kovalente Bindungen zwischen Silizium- und Kohlenstoffatomen gebildete Verbindung, die für ihre hervorragende Verschleißfestigkeit, Temperaturwechselbeständigkeit, Korrosionsbeständigkeit und hohe Wärmeleitfähigkeit bekannt ist.
WeiterlesenSiliziumkarbidkeramik (SiC), die für ihre hohe Festigkeit, Härte, Verschleißfestigkeit, Korrosionsbeständigkeit und Hochtemperaturstabilität bekannt ist, hat seit ihrer Einführung in zahlreichen Industriezweigen ein enormes Potenzial und einen enormen Wert bewiesen.
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